Дисциплина изучается студентами третьего курса КФМИТ физического факультета в осеннем семестре.
Цель курса – познакомить студентов-физиков, специализирующихся на кафедре: физических методов исследования твердого тела, с основами кристаллографии: понятие о симметрии, элементы и операции симметрии, симметрия конечных фигур, симметрия кристаллического пространства, точечные и пространственные группы симметрии, системы обозначений групп симметрии, способы представления кристаллических структур. Рассматриваются также вопросы дифракции рентгеновских лучей в связи со структурой кристаллов: кристаллическая решетка и положения дифракционных пиков, правила погасания, интенсивность рассеяния как функция координат атомов. Обсуждаются теоретические основы методов определения кристаллических структур по дифракционным данным.