Дисциплина изучается студентами четвертого курса КФМИТ физического факультета в весеннем семестре.
Цель курса – познакомить студентов-физиков, специализирующихся на кафедре физических методов исследования твердого тела, с основами методов просвечивающей и растровой сканирующей электронной микроскопии, аналитической электронной микроскопии. Рассматриваются вопросы дифракции электронов на кристаллической решетке, явления дифракционного и фазового контраста в электронной микроскопии высокого разрешения. Обсуждаются принципы и возможности энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии и спектроскопии характеристических потерь электронов. Специальные разделы посвящены методиками препарирования образцов для исследования методом трансмиссионной электронной микроскопии и практическим аспектам применения электронной микроскопии для исследования твердого тела и ультрадисперсных систем.